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热烈庆祝“《纳米材料电阻率的测量方法》国家标准审定会”胜利召开 --晶格四探针丁海龙总经理应邀以专家代表身份荣誉参加

作者: 来源: 日期:2018/12/10 15:55:08 人气:867

【会议概要】

        2018年12月7号,《纳米材料电阻率的测量方法》和《纳米技术 碳纳米管材料粉体电阻率测量方法》国家标准审定会在深圳胜利召开。相关单位领导和专家就两项标准的送审稿展开热烈讨论,深入交换意见,对标准的最后完善做了卓有成效的工作。 


                                                 国家标委会纳米标委会代表组

【主要参会单位】    

         国家标委会纳米标委会代表组主持审定会议,参与审定会的还有:

        标准的起草单位:中科院山西煤化所、深圳德方纳米科技等;

        检测院所:无锡国家石墨烯产品质量检测中心;

        电阻率测试仪厂家:苏州晶格电子有限公司;

        纳米材料生产单位:江苏河海纳米科技股份、江西晶瑞粉体等。


                                      部分标准的起草单位、纳米材料生产单位


【会议内容】  

           审定会第一项,审定了《纳米材料电阻率的测量方法》国标送审稿。

        此标准主要由中科院山西煤化所负责起草。

        此标准涵盖了纳米材料导电性能方面多项指标内容和多种技术方法,可测量材料包含纳米薄膜、纳米粉体,可测量参数有方块电阻、体电阻率,采用技术原理有四探针法和四端子法

        纳标委和与会代表一致认为,此标准作为纳米材料导电性能测量标准的系列标准框架来定性审定。本会议一同待审的同类标准《纳米技术碳纳米管材料 粉体电阻率测量方法》,锚定在此标准框架下协同审定。

        与会代表就标准的相关内容展开热烈讨论和审慎决议。包含技术原理、仪器设备、样品处理、测量步骤、结果处理等。对标准命名也做了完善修改。

        以下是部分讨论决议的精彩内容摘要:

        原标准名称《纳米材料电阻的测量方法》,修改为《导体、半导体纳米材料电阻率的测量方法》。

        原标准中“粉末电阻率四探针法”中“弹性四探针法”修改为“固定四探针法”。

 

          审定会第二项,审定了《纳米技术碳纳米管材料粉体电阻率的测量方法》国标送审稿。

       此标准由深圳德方纳米科技、深圳市标准技术研究院等负责起草。

       此标准是作为第一个系列框架标准《纳米材料电阻率的测量方法》中的细分特列标准来定性的。对应于《纳米材料电阻率的测量方法》中纳米粉体电阻率测量方法-四探针法。

       与会代表就本标准中技术原理、仪器设备、样品处理、测量步骤、结果处理等展开热烈讨论和审慎决议。

       由于期间审定的两个标准具有高度相关性,特别就前后两个标准的一致性和协调性做了特别的讨论。

       在此为期一天的标准审定会中,苏州晶格电子总经理丁海龙,作为唯 一 一 家电阻率仪器生产厂家代表参加,期间就两个方法标准的命名规范、技术原理、专业术语的规范性、技术方式实践可行性、测试结果处理适用性等提出富有专业性和建设性意见,收到标委会代表和标准起草单位、纳米材料检测和生产单位代表高度评价和采纳。


                                                     标准审定会成员单位代表合影

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